Статья:
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ОЦЕНКА ЧАСТОТЫ ОШИБОК ПРИ SERIAL-ОБМЕНЕ В ПРОЕКТАХ НА ПЛАТФОРМЕ ARDUINO
Конференция: XCV Международная научно-практическая конференция «Научный форум: технические и физико-математические науки»
Секция: Информатика, вычислительная техника и управление
Выходные данные
Романов Д.С. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ОЦЕНКА ЧАСТОТЫ ОШИБОК ПРИ SERIAL-ОБМЕНЕ В ПРОЕКТАХ НА ПЛАТФОРМЕ ARDUINO // Научный форум: Технические и физико-математические науки: сб. ст. по материалам XCV междунар. науч.-практ. конф. — № 4(95). — М., Изд. «МЦНО», 2026.
К условиям публикации Скачать сборник
Статья готовится к публикации. Обсуждение состоится 14.04.2026
